SNE-ALPHA Tarama Elektron Mikroskopu
SNE-ALPHA Tarama Elektron Mikroskopu
SNE Alpha masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM), 5 nm çözünürlük ve x150.000'e kadar büyütme kapasitesiyle, sınıfının en yüksek görüntüleme performansını sunan ileri düzey bir cihazdır.
Ürün Özellikleri
Pre-center edilmiş tungsten filament kartuşlu elektron tabancası ve standart Sekonder Elektron (SEI) dedektörüne ek olarak opsiyonel Geri Saçılmış Elektron (BSE) dedektörüyle desteklenen sistem, 1 ila 30 kV arasında altı kademeli hızlandırma voltajı sunar. Kullanıcı dostu, yeni nesil Nano-Eye arayüzü sayesinde görüntüler önceki modellere kıyasla %60 daha hızlı elde edilirken, gelişmiş otomasyon özellikleri (Auto Start, Auto Focus ve Auto-Gun-Align) sayesinde işlem süreci büyük ölçüde kolaylaştırılmıştır. Geniş alanları tek karede birleştirme olanağı sunan görüntü birleştirme (image stitching) teknolojisi ve 3D render desteği, yüzey pürüzlülüğü analizlerinde üstün sonuçlar sağlar. 80 mm çapa ve 40 mm yüksekliğe kadar numune desteği bulunan sahne sistemi, X-Y ekseninde 40 mm hareket, 360° döndürme, 0-40 mm Z ekseni hareketi ve -45° ile +90° arasında tilt kabiliyeti ile esnek numune konumlandırması sağlar. Yüksek/düşük vakum modları ve rotary + turbo moleküler pompa sistemiyle vakum kontrolü maksimum seviyede gerçekleştirilir. 300 x 460 x 600 mm boyutlarında ve yalnızca 78 kg ağırlığında olan ana ünite, %40 oranında küçültülmüş kompakt tasarımıyla minimum alanda maksimum verimlilik sunar ve her ölçekteki laboratuvar ortamına kolayca entegre edilebilir.
Önceki modellere göre yüzde 40 oranında küçültülmüş boyutları ile en dar laboratuvar ortamlarına dahi zahmetsizce kurulabilen masaüstü yapı.
30 kV hızlandırma voltajında 5 nm çözünürlük ve 250.000 kata varan büyütme oranı ile en ince detayları net bir şekilde görüntüleme.
90 saniyelik vakumlama ve 15 saniyelik havalandırma süreleriyle geleneksel sistemlere kıyasla yüzde 50 daha hızlı analiz başlangıcı.
5 µm den az hata payına sahip 5 eksenli motorize tabla sistemi ile 360 derece dönme, 90 derece tilt ve 45 derece açılandırma esnekliği.
TEKNİK ÖZELLİKLER
| Parametre | Teknik Özellik |
|---|---|
| Büyütme Oranı | 30x ila 250.000x arası |
| Çözünürlük | 5 nm (30 kV, SE modunda) |
| Hızlandırma Voltajı | 1 / 5 / 10 / 15 / 20 / 30 kV (6 kademeli) |
| Elektron Kaynağı | Tungsten flaman kartuşu |
| Detektör Seçenekleri | İkincil Elektron Detektörü (SEI) / Opsiyonel: Geri Saçılmalı Elektron Detektörü (BSE) |
| Tabla (Stage) Sistemi | X, Y, R, T, Z tam motorize sistem (X, Y: 40 mm, R: 360 derece, Z: 0-40 mm, T: -45 ila 90 derece) |
| Maksimum Numune Boyutu | 80 mm çap, 40 mm yükseklik |
| Vakumlama ve Havalandırma Süresi | Vakumlama 90 saniye / Havalandırma (Vent) 15 saniye |
| Ana Ünite Boyutları ve Ağırlığı | 300 x 460 x 600 mm / Yaklaşık 78 kg |
| Yazılım ve Ek Özellikler | Üçüncü nesil Nano-Eye yazılımı, Otomatik Odaklama, Otomatik Silah Hizalama, 3D Renderleme ve Parçacık Analizi |
| Opsiyonel Donanımlar | Dahili EDS Sistemi (Bruker veya Oxford Instruments), İyon Püskürtme Kaplama Cihazı (Ion Sputter Coater) |
| Çalışma Koşulları | 15 ile 30 derece oda sıcaklığı / Yüzde 70 veya daha az nem / Tek faz 200-240V AC, 1 kW, 50/60 Hz |