Metavision-8i
Metal Power
Metavision-8i
Metavision-8i, çift optik sistemi ve CMOS sensörleriyle donatılmış gelişmiş bir optik emisyon spektrometresidir. Spektrometri alanındaki araştırmalar, daha düşük tespit limitleri ve daha hızlı analiz süreleri elde ederken yüksek hassasiyet ve doğruluk sağlamaya odaklanmaktadır.
Ürün Özellikleri
Metavision-8i, Ferro ve None-Ferro metallerde geniş bir element yelpazesi için hızlı, hassas ve doğru analizler sunarken, aynı zamanda ekonomik avantajlar sağlar. 140-620 nm dalga boyu aralığında üstün performans gösteren çift optik sistemi, 140-220 nm arasındaki derin UV optikleriyle Karbon, Kükürt, Fosfor, Bor ve Azot gibi elementleri yüksek hassasiyetle tespit edebilir. Çelik ve dökme demirde Karbon ve Kükürt için ≤20 ppm, Azot için 20 ppm tespit limitlerine ulaşarak üstün analiz kapasitesi sunar. Ayrıca, demirsiz metallerde 99,9%+ saflık seviyesine ulaşabilir ve Bakır, Kurşun gibi bazı elementlerde bu oran 99,98%’i aşabilir.
Deep UV Spektrum Hassasiyeti
Özel DUV optik mimarisi ile Karbon, Kükürt, Fosfor ve Azot gibi zorlu elementlerde 20 ppm seviyesine inen yüksek tespit sınırı.
55 üzeri Element Analizi
140 nm ile 620 nm dalga boyu aralığında demir ve demir dışı matrislerde 55 ten fazla elementin hassas tayini.
Hızlı Stabilizasyon ve Düşük Maliyet
Vakum pompasına ihtiyaç duymayan optik yapısı ile düşük bakım gideri ve anında analize başlama imkanı.
Kolay Bakım ve Kesintisiz Servis
Alt sistemleri birbirinden izole eden modüler gövde tasarımı ile müdahale anında sıfır duruş süresi ve yüksek güvenilirlik.
TEKNİK ÖZELLİKLER
| Parametre | Teknik Özellik |
|---|---|
| Dalga Boyu Aralığı | 140 nm ile 620 nm arası |
| Karşılıklı Doğrusal Dispersiyon (RLD) | 1.6 nm/mm |
| Optik Sistem | Derin UV spektrumuna özel Çift Optik (Dual-Optics) sistemi ve termal stabilizasyon |
| Detektör Teknolojisi | Yüksek çözünürlüklü yeni nesil CMOS detektörler |
| Plazma Güç Kaynağı | Dijital darbe akım kontrollü kaynak (Pik deşarj 100 A / Maksimum frekans 1000 Hz) |
| Giriş Voltajı | 90 - 270 VAC, 50/60 Hz küresel uyum |
| Analiz Edilebilir Element Sayısı | Standart kalibrasyonlarda 55 üzeri element (Demir matrisinde 29 üzeri element) |
| Tespit Sınırları (LOD) | Çelik ve dökme demirlerde C, S, P ve N için 20 ppm ye kadar |
| Saf Metal Ölçüm Saflığı | Tüm saf metallerde yüzde 99.9+ / Cu ve Pb için yüzde 99.98+ saflık tayini |
| Özel Numune Adaptörleri | 0.05 mm kalınlığında ince saclar, 2.2 mm çapında teller ve küçük numuneler için adaptör seçenekler |
